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高分子材料は，プラスチックに代表される硬質材料から，ゴムやゲルのような柔軟性を特徴とするものまで幅広く存在し，その動的物性は，構造や環境によって大きく変化する。その動的物性を理解し，精密に制御するには分子スケールのダイナミクスを幅広い時間スケールで評価することが極めて重要である。ここで紹介するX線光子相関分光法（X-ray photon correlation spectroscopy，XPCS）は，そうしたダイナミクスを計測する有力な手法の1つである1）。X線散乱手法を用いる利点は，微視性，透過性，非接触性などが挙げられるが，高分子材料のような階層構造を持つ系においては，空間依存の情報を取得できることも大きな有意性を持つ。すなわち，散乱X線を角度依存で検出することで，様々な空間スケールでの情報を得ることができる。 また，ダイナミクス計測では運動の速さが注目されがちだが，その均一性（不均一性）も重要な要素である。XPCSでは平均的なダイナミクスだけでなく，刻々と変化するダイナミクスを実時間スケールで評価することも可能である。以下で，XPCSの概要と応用例を紹介する。 ...
Online ISSN : 2435-2292
Print ISSN : 0375-9253
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