※ 検索ワードを区切るスペースは半角でお願いします。
半導体やフォトニクス,ストレージ,更にエネルギーや医療関連など様々な分野で用いられている各種デバイスでは,積層構造などのいわゆる「埋もれた界面」の特性を利用して機能発現や高性能化が図られている。まためっき,接着,複合材料,傾斜材料,研磨などの材料・製造プロセスにおいても種々の界面現象の理解と制御による材料設計が重要となっている。しかしながら,電子線をはじめとした様々なプローブを用いることができる表面分析に比べ,この「埋もれた界面」の分析手法は非常に限られている。化学構造を非破壊で測定する手法は特に限定的と言えるが,筆者らは表面増強ラマン分光法(SERS, Surface-Enhanced Raman Spectroscopy)に着目し,埋もれた界面の計測のための検討をおこなっている。本稿ではそのアプローチ及び応用例などについて紹介する。 ...
お気に入りから削除しますか?