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2022 Vol.86 No.8 特集

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特集

化学工学に貢献する先端計測
クラスター二次イオン質量分析法(GCIB-SIMS)による大きな分子量の分析
市販装置のチャレンジ~Ionoptika J105 SIMS~

 質量分析(MS)は,分子量を直接評価することが可能なため,有機物の測定法として重要な地位を占めている。中でも二次イオン質量分析法(SIMS),特に飛行時間型SIMS(TOF-SIMS)は,最表面且つ微小領域の有機物の測定法として化学工業の不良解析やバイオ試料の測定に成果を挙げてきた。しかし,従来のTOF-SIMSでは,面分解能が100 nm以下を実現してはいるものの,測定可能な質量(m/z)はせいぜい数百〜1,000程度であり,特にイメージングに必要な強度を得るためには,測定可能な質量は更に小さくならざるを得ない。一方,マトリックス支援レーザー質量分析法(MALDI MS)は,バイオ試料の組織レベルでの質量分析法として十分に確立されてきた。しかしながら,MALDI MSではイオン化のためのマトリックス処理を試料に施す必要があるために必ずしも試料固有の情報を反映することができない場合があること,また面分解能が数μmである(多くは数十μmレベルでの測定)ため細胞レベルでの評価が難しいこと,が指摘されている。  日本では京都大学の山田・松尾らを中心にガスクラスターイオンビーム(GCIB)が開発され,GCIBをスパッ...

高野 明雄
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高野 明雄

Analysis of Large Molecules by Cluster SIMS(GCIB-SIMS) Challenge of a Commercial Instrument ~Ionoptika, J105 SIMS~

Akio TAKANO

  • 2009年 茨城大学大学院理工学研究科応用粒子線科学専攻博士後期課程

  • (株)トヤマ 分析装置タスクフォース 技師長

富塚 仁

富塚 仁

Hithoshi TOMIZUKA

  • 1994年 室蘭工業大学大学院工学研究科物質工学専攻博士後期課程

  • (株)トヤマ 営業部 部長

大岩 烈

大岩 烈

Retsu OIWA

  • 1975年 学習院大学物理学科卒業

  • (株)トヤマ 取締役

Paul BLENKINSOPP

Paul BLENKINSOPP

Paul BLENKINSOPP

  • 1984年 Physics, University of Sussex

  • Ionoptika Ltd. Managing Director

佐野 奈緒子

佐野 奈緒子

Naoko SANO

  • 2012年 Scholl of Mechanical Engineering Sciences, University of Surrey, PhD

  • Ionoptika Ltd. Applications Scientist

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Online ISSN : 2435-2292

Print ISSN : 0375-9253

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